Bankų technologinės įrangos

Spaudos proceso eigoje dėl daugybės įvairių faktorių (technologinių, aparatūrinių, aplinkos ir kt.) poveikio, atspauduose gaunami, kaip bendrų vaizdo matmenų, taip ir atskirų grafinių elementų pokyčiai. Spaudos technologija patvirtina, kad netgi esant optimizuotoms spaudos technologinio proceso sąlygoms, dėl įvairių priežasčių neišvengiamai atsiranda detalemetriniai iškraipymai. Kaip taisyklė, pilnai pašalinti grafinius iškraipymus (netikslumus) atspauduose praktiškai neįmanoma, todėl jiems nustatomi leistini nukrypimai. Pavyzdžiui, spausdinant vienspalve ofsetine spauda, leidžiami spaudos elementų geometriniai nukrypimai iki 0,5 mm.
Ypatingai aukšti reikalavimai keliami sutapatinimui spausdinant spalvota spauda. Kai spausdinama ofsetine daugiaspalve spauda, nesutapatinimo paklaidos neturi viršyti 0,1-0,2 mm, o specialiosios, ypatingai tikslios spaudos gaminiams - 0,05-0,10 mm. Išskirtiniu antspaudų poligrafinių elementų tikslumu pasižymi technologiškai apsaugotų dokumentų blankų spausdinimas. Dokumentų blankų poligrafinių spaudos elementų skiriamoji geba gali siekti keliolika mikrometrų. Be to, spaudos elementų kompozicija gali būti negatyvinio ir pozityvinio išpildymo.
Tokių mikroninių matmenų kontrolė galima tik optinėmis matavimo priemonėmis, kai vaizdas išdidinamas iki kelių dešimčių arba net šimtų kartų.
Optinėmis priemonėmis kontroliuojami ne tik geometriniai matmenys, bet ir pačio technologinio proceso kokybė. Tai visų pirma spaudos formų kokybė, dengimo poligrafiniais dažais kokybė, spaudos elementų kontūro ribos sklaida ir kt.
Šių parametrų kontrolei poligrafinių procesų technologijose pritaikyti kitus matavimo metodus yra kol kas labai problematiška.
2. Metodiniai nurodymai
Dviejų koordinačių optinis matavimo prietaisas DIP-1 skirtas linijinių ir kampinių geometrinių matmenų kontrolei ir gali matuoti šviesos pralaidumo arba atspindžio metodais. Linijiniai matmenys prietaisu matuojami ±0,2 mkm tikslumu.
Prietaisas susideda iš precizinio XY koordinatinio persislinkimo sistemos, binokuliarinio optinio vaizdo sistemos, linijinio persislinkimo su difrakcinėmis gardelėmis kontrolės sistemos, optoelektroninių signalų keitiklio bei integratoriaus bloko, skaitmeninės indikacijos bloko.
1 pav. Mikroskopas DIP-1
1 - tinklo jungiklis, 2 - atspindžio šviesos šaltinio įtampos perjungėjas, 3 - atspindžio šviesos šaltinio jungiklis, 4 -binokuliarinio mikroskopo šviesos šaltinio jungiklis, 5 - binokuliarinis mikroskopas, 6 - atspindžio šviesos šaltinis, 7 – stalas, 8 - grubus fokusavimo nustatymas, 9 - tikslus vaizdo fokusavimas, 10 - vizirinės linijos kampinis...

Daugiau informacijos...

★ Klientai rekomenduoja

Šį rašto darbą rekomenduoja mūsų klientai. Ką tai reiškia?

Mūsų svetainėje pateikiama dešimtys tūkstančių skirtingų rašto darbų, kuriuos įkėlė daugybė moksleivių ir studentų su skirtingais gabumais. Būtent šis rašto darbas yra patikrintas specialistų ir rekomenduojamas kitų klientų, kurie po atsisiuntimo įvertino šį mokslo darbą teigiamai. Todėl galite būti tikri, kad šis pasirinkimas geriausias!