Gedimai loginėje grandinėje

DARBO TIKSLAS: Išmokti aptikti gedimus loginėje grandinėje.
1. Ištirti duotos elektrinės grandinės veikimą su klaidomis ir be klaidų NI MULTISIM kompiuterine programa.
2. Užpildyti teisingumo lentelę funkcijoms kiekvieno elemento išėjime.
3. Aktyvuoti gedimą schemoje.
4. Nustatyti, ar schemoje yra gedimas.
5. Nustatyti gedimo vietą.
6. Paaiškinti gedimo priežastį.
NAUDOJAMA EKSPERIMENTINĖ ĮRANGA: asmeninis kompiuteris, NI MULTISIM kompiuterinė programa.
TEORINIS ĮVADAS
Yra trys pagrindiniai žingsniai, kurie naudojami atliekant gedimų taisymą loginėse grandinėse:
• Gedimo aptikimas. Pirmiausiai loginė grandinė yra ištiriama ir nustatoma, ar jos veikimas yra toks, kaip numatyta, ar yra gedimas.
• Gedimo vietos nustatymas. Atliekami išsamūs tyrimai ir nustatoma gedimo vieta loginėje grandinėje.
• Gedimo pašalinimas. Pakeičiamas sugedęs elementas, atstatomas nutrūkęs jungimas ir pan.
Atrodytų gedimo šalinimo žingsniai yra logiški ir savaime suprantami, tačiau pati procedūra labai priklauso nuo tiriamosios grandinės tipo, jos sudėtingumo, žinių apie grandinės veikimą (dokumentacija).
Dažniausiai pasitaikantys integrinių grandynų gedimai yra:
1. Vidinių elektronikos komponentų gedimai. Pvz.: trumpas jungimas tarp tranzistoriaus bazės ir emiterio, per didelės ar per mažos apkrovos varžos ir pan. Tokio tipo gedimas yra retesnis, nei kiti trys.
2. Loginio elemento įėjimų ar išėjimų trumpas jungimas su maitinimo šaltiniu ar įžeminimu ( pav.). Jei trumpas jungimas yra tarp loginio elemento įėjimo ir maitinimo šaltinio ar įžeminimo, tai tame įėjime visuomet bus loginis 1, arba loginis 0. Jei trumpas jungimas yra tarp loginio elemento išėjimo ir maitinimo šaltinio ar įžeminimo, tai tame išėjime visuomet bus loginis 1 arba loginis 0.
1 pav. Loginio elemento IR-NE įėjimo išvado trumpas jungimas su įžeminimu (a), su maitinimo šaltiniu (b), išėjimo išvado trumpas jungimas su įžeminimo (c), su matinimo šaltiniu (d)
3. Loginio elemento įėjimų ar išėjimo atviras jungimas. Kartais labai plonas laidas, jungiantis integrinio grandyno išvadą su vidine elektrine grandine gali būti pažeistas. pav. pavaizduotas loginio elemento NAND integrinis grandynas, kuriame yra nutrūkę kontaktinis takelis tarp loginio elemento įėjimo ir 13 išvado, bei loginio elemento išėjimo ir 6 išvado. Priklausomai nuo naudojamos technologijos atviras loginio...

Daugiau informacijos...

★ Klientai rekomenduoja

Šį rašto darbą rekomenduoja mūsų klientai. Ką tai reiškia?

Mūsų svetainėje pateikiama dešimtys tūkstančių skirtingų rašto darbų, kuriuos įkėlė daugybė moksleivių ir studentų su skirtingais gabumais. Būtent šis rašto darbas yra patikrintas specialistų ir rekomenduojamas kitų klientų, kurie po atsisiuntimo įvertino šį mokslo darbą teigiamai. Todėl galite būti tikri, kad šis pasirinkimas geriausias!